主板检测卡的代码是什么意思 电脑主板检测卡代码汇总

29、已调定单色方式，即将调定彩色方式。 CMOS配置有效性的检查正在进行。

2A 使键盘控制器作初始准备。 已调定彩色方式，即将进行ROM测试前的触发奇偶性。 置空64K基本内存。

2B 使磁碟驱动器和控制器作初始准备。 触发奇偶性结束；即将控制任选的视频ROM检查前所需的任何调节。 屏幕存储器测试正在进行或失灵。

2C 检查串行端口，并使之作初始准备。 完成视频ROM控制之前的处理；即将查看任选的视频ROM并加以控制。 屏幕初始准备正在进行或失灵。

2D 检测并行端口，并使之作初始准备。 已完成任选的视频ROM控制，即将进行视频ROM回复控制之后任何其他处理的控制。 屏幕回扫测试正在进行或失灵。

2E 使硬磁盘驱动器和控制器作初始准备。 从视频ROM控制之后的处理复原；如果没有发现EGA／VGA就要进行显示器存储器读／写测试。 检测视频ROM正在进行。

2F 检测数学协处理器，并使之作初始准备。 没发现EGA／VGA；即将开始显示器存储器读／写测试。

30、建立基本内存和扩展内存。 通过显示器存储器读／写测试；即将进行扫描检查。 认为屏幕是可以工作的。

31、检测从C800：0至EFFF：0的选用ROM，并使之作初始准备。 显示器存储器读／写测试或扫描检查失败，即将进行另一种显示器存储器读／写测试。 单色监视器是可以工作的。

32、对主板上COM／LTP／FDD／声音设备等I／O芯片编程使之适合设置值。 通过另一种显示器存储器读／写测试；却将进行另一种显示器扫描检查。 彩色监视器（40列）是可以工作的。

33、视频显示器检查结束；将开始利用调节开关和实际插卡检验显示器的关型。 彩色监视器（80列）是可以工作的。

34、已检验显示器适配器；接着将调定显示方式。 计时器滴答声中断测试正在进行或失灵。

35、完成调定显示方式；即将检查BIOS ROM的数据区。 停机测试正在进行或失灵。

36、已检查BIOS ROM数据区；即将调定通电信息的游标。 门电路中A－20失灵。

37、识别通电信息的游标调定已完成；即将显示通电信息。 保护方式中的意外中断。

38、完成显示通电信息；即将读出新的游标位置。 RAM测试正在进行或者地址故障＞FFFFH。

39、已读出保存游标位置，即将显示引用信息串。

3A 引用信息串显示结束；即将显示发现《ESC》信息。 间隔计时器通道2测试或失灵。

3B 用OPTI电路片（只是486）使辅助超高速缓冲存储器作初始准备。 已显示发现＜ESC＞信息；虚拟方式，存储器测试即将开始。 按日计算的日历时钟测试正在进行或失灵。

3C 建立允许进入CMOS设置的标志。 。 串行端口测试正在进行或失灵。

3D 初始化键盘／PS2鼠标／PNP设备及总内存节点。并行端口测试正在进行或失灵。3E 尝试打开L2高速缓存。数学协处理器测试正在进行或失灵。

40、已开始准备虚拟方式的测试；即将从视频存储器来检验。 调整CPU速度，使之与外围时钟精确匹配。

41、中断已打开，将初始化数据以便于0：0检测内存变换（中断控制器或内存不良） 从视频存储器检验之后复原；即将准备描述符表。 系统插件板选择失灵。

42、显示窗口进入SETUP。 描述符表已准备好；即将进行虚拟方式作存储器测试。 扩展CMOS RAM故障。

43、若是即插即用BIOS，则串口、并口初始化。 进入虚拟方式；即将为诊断方式实现中断。

44、已实现中断（如已接通诊断开关；即将使数据作初始准备以检查存储器在0：0返转。） BIOS中断进行初始化。

45、初始化数学协处理器。 数据已作初始准备；即将检查存储器在0：0返转以及找出系统存储器的规模。

46、测试存储器已返回；存储器大小计算完毕，即将写入页面来测试存储器。 检查只读存储器ROM版本。

47、即将在扩展的存储器试写页面；即将基本640K存储器写入页面。

48、已将基本存储器写入页面；即将确定1MB以上的存储器。 视频检查，CMOS重新配置。

49、找出1BM以下的存储器并检验；即将确定1MB以上的存储器。 。

4A 找出1MB以上的存储器并检验；即将检查BIOS ROM数据区。进行视频的初始化。

4B BIOS ROM数据区的检验结束，即将检查＜ESC＞和为软复位清除1MB以上的存储器。

4C 清除1MB以上的存储器（软复位）即将清除1MB以上的存储器。 屏蔽视频BIOS ROM。

4D 已清除1MB以上的存储器（软复位）；将保存存储器的大小。

4E 若检测到有错误；在显示器上显示错误信息，并等待客户按＜F1＞键继续。 开始存储器的测试：（无软复位）；即将显示第一个64K存储器的测试。 显示版权信息。

4F 读写软、硬盘数据，进行DOS引导。 开始显示存储器的大小，正在测试存储器将使之更新；将进行串行和随机的存储器测试。